发明名称 | 制作开口与接触洞之方法 | ||
摘要 | 首先提供一半导体基底,且上述半导体基底由下而上依序包含有一蚀刻停止层与至少一介电层。接着图案化上述介电层以于上述介电层中形成复数个开口,并曝露出位于上述开口底部之蚀刻停止层。随后形成一介电薄膜,覆盖于上述介电层之表面、上述开口之内壁与曝露出之蚀刻停止层上。最后去除位于上述介电层以及上述蚀刻停止层上之介电薄膜。 | ||
申请公布号 | TW200715469 | 申请公布日期 | 2007.04.16 |
申请号 | TW094135241 | 申请日期 | 2005.10.07 |
申请人 | 联华电子股份有限公司 | 发明人 | 曹博昭;黄昌琪;陈铭聪 |
分类号 | H01L21/768(2006.01) | 主分类号 | H01L21/768(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 许锺迪 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号 |