发明名称 半导体装置之制造方法
摘要 本发明系提供一种可于一统模塑类型之记忆卡上,防止于转注(transfer mold)成型时产生之晶片裂缝的技术。本发明具有第1步骤,其将基板101以设置于安装有晶片102之面侧之第1模具(上部模具)与设置于形成有连接端子106之面侧之第2模具(下部模具)夹住,该基板101系于与安装有构成复数记忆卡之复数晶片102之面相反侧之面之凹处,形成有复数连接端子106。又,具有第2步骤,其藉由将密封树脂104注入第1模具与基板101之间,而对安装于基板101上之复数晶片102进行一统密封。继而于处于连接端子106正下方之第2模具之区域中,形成有较周围突出之突起部(端子部支承块113),且于第2步骤中,突起部支撑连接端子106。
申请公布号 TW200715428 申请公布日期 2007.04.16
申请号 TW095124745 申请日期 2006.07.07
申请人 瑞萨科技股份有限公司 发明人 仓富文司;清水福美
分类号 H01L21/56(2006.01);G06K19/06(2006.01) 主分类号 H01L21/56(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本