发明名称 |
VERFAHREN UND SCHALTUNG ZUM SCHUTZ VON PRÜFKONTAKTEN BEI DER HOCHSTROM-MESSUNG VON HALBLEITER-BAUELEMENTEN |
摘要 |
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申请公布号 |
AT500263(B1) |
申请公布日期 |
2007.04.15 |
申请号 |
AT20040000453 |
申请日期 |
2004.03.15 |
申请人 |
T.I.P.S. MESSTECHNIK GMBH |
发明人 |
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分类号 |
G01R1/067;G01R1/073;G01R1/36;G01R31/28;G01R31/30;(IPC1-7):G01R31/28;H01L21/66 |
主分类号 |
G01R1/067 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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