| 发明名称 |
Verfahren zur Absicherung des Testmodus einer integrierten Schaltung mittels Eindringungserkennung |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE602005000089(T2) |
申请公布日期 |
2007.04.12 |
| 申请号 |
DE200560000089T |
申请日期 |
2005.01.26 |
| 申请人 |
STMICROELECTRONICS S.A. |
发明人 |
BANCEL, FREDERIC;HELY, DAVID |
| 分类号 |
G01R31/3185;G01R31/317;G06F12/00;G06F12/14;G06F21/00 |
主分类号 |
G01R31/3185 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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