发明名称 |
Method of detecting particles using multiple sensor surfaces and sensor arrangement for carrying out said method |
摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Nachweisen von Teilchen insbesondere von Nanopartikeln (16), wobei hierzu eine Sensorfläche (15) zur Verfügung gestellt wird, an die die Teilchen angelagert werden können. Weiterhin betrifft die Erfindung eine Sensoranordnung mit einer Sensorfläche (15), die zur Ausführung des genannten Verfahrens geeignet ist. Erfindungsgemäß ist vorgesehen, dass mehrere Sensorflächen (15) angeordnet sind, an die Teilchen mit jeweils unterschiedlichen Eigenschaften anlagern können. Beispielsweise können hierdurch Nanopartikel (16) unterschiedlicher Größe klassiert werden, wodurch vorteilhaft eine Aussage über die Größenverteilung der Nanopartikel (16) in einem Nanopulver möglich wird.
</p> |
申请公布号 |
EP1770386(A3) |
申请公布日期 |
2007.04.11 |
申请号 |
EP20060121486 |
申请日期 |
2006.09.29 |
申请人 |
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT |
发明人 |
ARNDT, FRANK;GRAHMANN, JAN;HOLST, JENS-CHRISTIAN;JENSEN, JENS DAHL;KRUEGER, URSUS;ROENSCH, HENDRIK;STECKENBORN, ARNO |
分类号 |
G01N15/06;G01N21/55;G01N27/00;G01N29/02;G08B17/10 |
主分类号 |
G01N15/06 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|