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发明名称 Method for forming line for testing array substrate in fringe field switching mode LCD
摘要
申请公布号 KR100707034(B1) 申请公布日期 2007.04.11
申请号 KR20050016542 申请日期 2005.02.28
申请人 发明人
分类号 G02F1/1345;G02F1/13 主分类号 G02F1/1345
代理机构 代理人
主权项
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