发明名称 |
使用等离子体处理衬底的装置和方法,以及制造半导体器件的设备 |
摘要 |
使用多种不同类型等离子体源来处理衬底。等离子体源可与单个处理室相关。在这种情况下,选择性地操作等离子体源,来处理在处理室中的衬底。或者,等离子体源分别与集成的制造设备中的各个处理室相关联。根据本发明,等离子体源的操作参数,例如使用顺序,构成额外的可以调节的处理参数,最大化处理效率。 |
申请公布号 |
CN1945793A |
申请公布日期 |
2007.04.11 |
申请号 |
CN200610141294.5 |
申请日期 |
2006.09.29 |
申请人 |
三星电子株式会社 |
发明人 |
韩硕铉;朴荣奎 |
分类号 |
H01L21/00(2006.01);H01L21/3065(2006.01);H01L21/31(2006.01);H01L21/20(2006.01);C23F4/00(2006.01);C23C16/00(2006.01);C23C14/00(2006.01);H05H1/00(2006.01);H01J37/32(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/00(2006.01) |
代理机构 |
中原信达知识产权代理有限责任公司 |
代理人 |
林宇清;谢丽娜 |
主权项 |
1.一种等离子体处理装置包括: 处理室; 半导体支撑,设置在处理室中并用于当在室中处理衬底时支撑衬 底; 气体供应系统,连接到处理室;以及 等离子体生成系统,包括多个等离子体生成器,每个等离子体生 成器独立可操作地使用由气体供应系统提供的处理气体产生等离子 体,等离子体生成器是不同的类型。 |
地址 |
韩国京畿道水原市灵通区梅滩洞416番地 |