发明名称 |
电路板性能测试辅助装置 |
摘要 |
本实用新型公开了一种电路板性能测试辅助装置,包括固定架和测试架,测试架包括底座,底座上设置有若干线路板支撑柱和与电路板测试连接点对应的探针,探针连接有用以和测试装置连接的数据线接口,测试架中部设有探针固定板。所述固定架包括底座、操作杆、连杆以及前端设有压块的L型压杆,L形压杆的底端及连杆一端活络转接在底座上,操作杆的中前部与连杆另一端活络转接,操作杆的前端则活络转接在L型压杆的转角上。本实用新型结构简单,操作简便,可快速将探针与被测电路板测试连接点连接,并保证在测试过程中探针和测试点接触良好。 |
申请公布号 |
CN2888452Y |
申请公布日期 |
2007.04.11 |
申请号 |
CN200620102519.1 |
申请日期 |
2006.04.10 |
申请人 |
许晓华 |
发明人 |
魏洪臣;武世转 |
分类号 |
G01R1/073(2006.01);G01R1/00(2006.01);G01R31/28(2006.01) |
主分类号 |
G01R1/073(2006.01) |
代理机构 |
杭州华鼎专利事务所 |
代理人 |
竺诗忍 |
主权项 |
1、电路板性能测试辅助装置,其特征在于:包括固定架(1)和测试架(2),测试架(2)包括底座(21),底座(21)上设置有若干电路板支撑柱(22),中间层(23)以及与电路板(5)待测试点对应的探针(3),探针(3)连接有用以和测试装置连接的数据线接口(4),测试架中部设有探针固定板(23)。 |
地址 |
322100浙江省东阳市人民路96号联宜电机有限公司 |