首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 METHOD FOR PATTERN INSPECTION
摘要
申请公布号 KR20070038580(A) 申请公布日期 2007.04.10
申请号 KR20077006872 申请日期 2007.03.26
申请人 TOKYO SEIMITSU CO., LTD.;ACCRETECH (ISRAEL) LTD. 发明人 GESHEL MARK;SHMUELI NIV;FRIEDMANN GIDEON;BREGMAN AMITAI ORNA
分类号 G01N21/956;G06T1/00;G06T7/00;H01L21/66 主分类号 G01N21/956
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com