发明名称 Interferometrische Messvorrichtung zur Wellenlängenkalibrierung
摘要
申请公布号 DE10131898(B4) 申请公布日期 2007.04.05
申请号 DE20011031898 申请日期 2001.07.04
申请人 LEICA MICROSYSTEMS SEMICONDUCTOR GMBH 发明人 RINN, KLAUS;KACZYNSKI, ULRICH
分类号 G01B9/04;G01J9/02;G01B9/02;G01B11/00;G01B11/03 主分类号 G01B9/04
代理机构 代理人
主权项
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