发明名称 记录介质
摘要 本发明公开了一种记录介质。发明人对在读出RAM信息时从光检测器输出的电信号进行了观察。已经证实,该电信号包括具有相对较大的第一振幅值(b)的再现波形和具有小于第一振幅值(b)的第二振幅值(a)的再现波形。第二振幅值(b)的再现波形与第一振幅值(a)的再现波形同步。发明人披露了第一和第二振幅值之比与第一和第二双折射值之间的双折射差之间的相关性。满意的相关性使得能够在基于记录标记读出信息时可靠地实现等于或小于8%的抖动。这种类型的记录介质使得能够基于记录标记高精度地实现信息的记录和再现。
申请公布号 CN1942958A 申请公布日期 2007.04.04
申请号 CN200480042807.6 申请日期 2004.06.09
申请人 富士通株式会社 发明人 细川哲夫
分类号 G11B11/105(2006.01) 主分类号 G11B11/105(2006.01)
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 代理人 李辉;吕俊刚
主权项 1、一种记录介质,该记录介质包括:衬底,该衬底的表面上限定有多个相位坑序列;以及磁膜,其根据磁化方向在所述衬底的所述表面上限定多个记录标记,其中在振幅比a/b与双折射差d[nm]之间建立了以下关系,所述振幅比a/b 是在电信号的最大振幅值b和该电信号的最小振幅值a之间得到的,所述双折射差d[nm]是在第一和第二双折射值之间得到的,[表达式15]a/b≥0.0177d+0.2568 (1)所述第一双折射值是针对光束单次穿过所述衬底而测量的,所述衬底的姿势为绕通过所述光束在所述衬底上的光点延伸的切线,相对于垂直于所述光束的基准面旋转20度,所述第二双折射值是针对光束单次穿过所述衬底而测量的,所述衬底的姿势为绕通过所述光束在所述衬底上的光点延伸的径向线,相对于所述基准面旋转20度,基于穿过所述磁膜的光束而在光检测器中产生所述电信号,所述光束具有彼此垂直的偏振面。
地址 日本神奈川县