发明名称 一种可同时用于高分辨力成像和光度测量的光电望远镜
摘要 一种可同时用于高分辨力成像和光度测量的光电望远镜,包括望远镜系统、自适应光学系统、成像系统和光度测量系统,成像系统和光度测量系统位于自适应光学系统的变形镜后,光度测量系统核心探测器件为EMCCD探测器。本发明中可提高光度测量系统的测量精度和成像系统的成像分辨力,同时光度测量系统核心探测器件EMCCD噪声小(读出噪声<1e<SUP>-</SUP>)量子效率高,可进一步提高目标光度信息测量的精度。
申请公布号 CN1940467A 申请公布日期 2007.04.04
申请号 CN200610112432.7 申请日期 2006.08.17
申请人 中国科学院光电技术研究所 发明人 饶长辉;吴碧琳
分类号 G01B9/06(2006.01) 主分类号 G01B9/06(2006.01)
代理机构 北京科迪生专利代理有限责任公司 代理人 关玲;成金玉
主权项 1、一种可同时用于高分辨力成像和光度测量的光电望远镜,其特征在于:包括望远镜系统(32)、自适应光学系统(31)、成像系统和光度测量系统(19),其中有光度测量系统(19),从目标来的光经主镜(1)、次镜(2)和反射镜(3)组成的望远镜系统(32)后,进入自适应光学系统(31),即经高速倾斜反射镜(4)和反射镜(5)到达分光镜(6),部分光经分光镜(6)透射进入跟踪物镜(21)后再进入精跟踪探测器(22),再由精跟踪处理器(30)进行处理,分光镜(6)的另一部分光分别依次经过三个反射镜(7、8、9)导入缩束系统1(16),缩束系统1(16)由离轴抛物镜(10)、离轴抛物镜(11)和场镜(12)组成,缩束系统1(16)的作用是将望远镜(32)来的光束口径压缩到与变形镜(14)的口径匹配,并且使望远镜主镜(1)和变形镜(14)满足物象共轭关系,通过缩束系统1(16)的光经高速倾斜反射镜(13)和变形镜(14)到达分光镜(15),从分光镜(15)反射的光经反射镜(17)和缩束系统2(18)进入哈特曼传感器(20),透射的光到达分光镜(23),从分光镜(23)反射的光进入光度测量系统(33)进行光度测量,同时透射的光进入成像探测系统(29)进行成像探测。
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