| 发明名称 | 光学测定装置和图像形成装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开一种光学测定装置，其以非接触状态测定物体的光学特性。所述光学测定装置包括：光源，其对物体表面进行照射；受光器，其接收从所述物体表面反射的光束；以及光调整部件，其调整照射到所述物体表面上的照射光束和从所述物体表面反射的反射光束。其中，所述光调整部件包括第一光调整部件和第二光调整部件，所述第一光调整部件确定对于所述物体表面的照射区和反射区中的至少一个，所述第二光调整部件在所述物体表面上确定这样的区域：即，对由所述物体表面反射并且入射到所述受光器上的反射光束进行测定的区域。 | ||
| 申请公布号 | CN1940530A | 申请公布日期 | 2007.04.04 |
| 申请号 | CN200610075684.7 | 申请日期 | 2006.04.18 |
| 申请人 | 富士施乐株式会社 | 发明人 | 纳浩史;三瓶浩一 |
| 分类号 | G01N21/27(2006.01);G01J3/46(2006.01) | 主分类号 | G01N21/27(2006.01) |
| 代理机构 | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人 | 何立波;张天舒 |
| 主权项 | 1.一种光学测定装置，其以非接触状态测定物体的光学特性，所述光学测定装置包括：光源，其对物体表面进行照射；受光器，其接收从所述物体表面反射的光束；以及光调整部件，其调整照射到所述物体表面上的照射光束和从所述物体表面反射的反射光束，其中，所述光调整部件包括第一光调整部件和第二光调整部件，所述第一光调整部件确定对于所述物体表面的照射区和反射区中的至少一个，所述第二光调整部件在所述物体表面上确定这样的区域：即，对由所述物体表面反射并且入射到所述受光器上的反射光束进行测定的区域。 | ||
| 地址 | 日本东京 | ||