| 发明名称 | 磁记录设备和定位校正方法 | ||
| 摘要 | 一种磁记录设备，包括：复合磁头，包括记录磁头和再现磁头；磁性存储介质；离散区域；以及校正信息记录区域。定位校正信息可以被写入在每个轨道中心的校正信息记录区域。该设备还包括中心偏离量检测区域。中心偏离量检测信息被预先记录在中心偏离量检测区域中。当记录磁头或再现磁头被定位在轨道的中心时，中心偏离量检测信息用于对表示跟踪中心与离散区域的实际轨道中心之间的相对距离的中心偏离量进行测量。 | ||
| 申请公布号 | CN1941088A | 申请公布日期 | 2007.04.04 |
| 申请号 | CN200610106230.1 | 申请日期 | 2006.07.05 |
| 申请人 | 株式会社东芝 | 发明人 | 中村博昭;高仓晋司 |
| 分类号 | G11B5/58(2006.01);G11B5/596(2006.01);G11B21/10(2006.01) | 主分类号 | G11B5/58(2006.01) |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 李德山 |
| 主权项 | 1.一种磁记录设备，包括：复合磁头，包括记录磁头和再现磁头；以及磁性存储介质，数据被记录在其中，所述磁性存储介质包括，离散区域，具有多个轨道以及位于相邻轨道之间的非磁性区域，所述轨道具有磁性记录区域，可以利用所述记录磁头将数据写入所述磁性记录区域，而在所述非磁性区域中，不能利用所述记录磁头将数据写入所述非磁性区域，校正信息记录区域，定位校正信息可以被写入所述校正信息记录区域，用于将所述记录磁头或所述再现磁头定位在每个轨道的中心，以及中心偏离量检测区域，中心偏离量检测信息被预先记录在所述中心偏离量检测区域中，当所述记录磁头或所述再现磁头被定位在轨道中心时，所述中心偏离量检测信息用于对表示跟踪中心与所述离散区域的实际轨道中心之间的相对距离的中心偏离量进行测量。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||