发明名称 |
INCREASE PRODUCTIVITY AT WAFER TEST USING PROBE RETEST DATA ANALYSIS |
摘要 |
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申请公布号 |
EP1769257(A2) |
申请公布日期 |
2007.04.04 |
申请号 |
EP20050778492 |
申请日期 |
2005.05.25 |
申请人 |
INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION |
发明人 |
BALCHIUNAS, AKIKO, F. |
分类号 |
G01R31/28;B07C5/344;G01R27/28;G01R31/00;G01R31/14;G06F19/00 |
主分类号 |
G01R31/28 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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