发明名称 | 硬体描述语言电路之检测系统与方法 | ||
摘要 | 一种硬体描述语言电路之检测系统系检测一硬体描述语言所描述之一待测试电路程式码,此系统包含一电路模拟软体、一介面程式码以及一处理器。其中电路模拟软体系执行待测试电路程式码以模拟一待测试电路,其中待测试电路程式码系产生一第一讯息,处理器系执行电路模拟软体,并产生一第二讯息,介面程式码系由硬体描述语言所描述,并执行于电路模拟软体,其中介面程式码系传送待测试电路程式码所产生之该第一讯息至处理器或传送处理器所产生之该第二讯息至待测试电路程式码。 | ||
申请公布号 | TW200712874 | 申请公布日期 | 2007.04.01 |
申请号 | TW094133839 | 申请日期 | 2005.09.28 |
申请人 | 威盛电子股份有限公司 | 发明人 | 刘云天 |
分类号 | G06F11/36(2006.01) | 主分类号 | G06F11/36(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 刘正格 | |
主权项 | |||
地址 | 台北县新店市中正路535号8楼 |