发明名称 系统晶片之错误诊断装置与其方法以及可错误诊断的系统晶片
摘要 一种错误诊断装置与方法,其可直接地或远端地诊断在嵌入于产品上的系统晶片中之错误,以及一种可错误诊断的系统晶片。用于系统晶片的错误诊断装置包括指令输入单元与输出单元,指令输入单元用以输入错误诊断请求指令至系统晶片,输出单元用以从系统晶片中接收诊断结果并且输出诊断结果,其中系统晶片会接收错误诊断请求指令、诊断其本身错误并且输出诊断结果至输出单元,由此直接地或远端地诊断在嵌入于产品上的系统晶片中之错误。
申请公布号 TW200712524 申请公布日期 2007.04.01
申请号 TW095132530 申请日期 2006.09.04
申请人 三星电子股份有限公司 发明人  汉
分类号 G01R31/3181(2006.01) 主分类号 G01R31/3181(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 韩国
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