发明名称 半导体逻辑电路装置之测试向量产生方法及测试向量产生程式
摘要 〔课题〕以延迟故障为对象之实际速度扫描测试中进行双重截取操作时之输出变化扫描正反器的数量变多,因而使得双重截取消耗电力变大,结果造成电源电压降低,而产生误测试。〔解决手段〕进行判别各位元顺序的X类型(步骤301)。当存在X类型1,亦即存在未含有未确定位元之类型以外的X类型时,系对于截取时钟脉冲C1、C2进行计算总截取状态变化数TECTA1、TECTA2(步骤303)。结果,当TECTA1>TECTA2时,就截取时钟脉冲C1选择X类型,且进行第1X嵌入处理(步骤305)。另一方面,当TECTA1≦TECTA2时,则就截取时钟脉冲C2选择X类型,且进行第2X嵌入处理(步骤306)。
申请公布号 TW200712520 申请公布日期 2007.04.01
申请号 TW095125649 申请日期 2006.07.13
申请人 国立大学法人九州工业大学 发明人 温晓青;原诚司
分类号 G01R31/28(2006.01) 主分类号 G01R31/28(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文
主权项
地址 日本