| 主权项 |
1.一种工件安装测试系统,包括: 一安装设备,包括: 一平台;及 一冲头,与该平台相对;以及 一测试装置,固定于该平台上,包括: 一壳体,设有一收容空间、一与该收容空间相通之 开口和一与该收容空间相通之通孔,该通孔与该冲 头相对; 一探针,固定于该收容空间中,并朝向该通孔伸出, 该探针系由导电材料制成;及 一插头,包括一插脚,该插脚系由导电材料制成,该 插脚通过该开口与该探针电性连接;以及 一测试电路,包括一编程控制电路和一电源,该编 程控制电路和该电源串形连接, 其中,该插脚与该编程控制电路和电源的其中一者 串形连接,而该冲头与该编程控制电路和电源的其 中另一者串形连接。 2.如申请专利范围第1项所述之工件安装测试系统, 其更包括一绝缘层,设置于该探针与该壳体之间。 3.如申请专利范围第1项所述之工件安装测试系统, 其中该测试装置更包括一固定于该收容空间中之 本体,该本体系由绝缘材料制成,该本体包括一收 容孔,该探针系固定于该收容孔中,并朝向该通孔 伸出。 4.如申请专利范围第3项所述之工件安装测试系统, 其中该壳体包括复数螺纹孔,复数螺栓通过该等螺 纹孔将该本体固定于该收容空间中。 5.如申请专利范围第3项所述之工件安装测试系统, 其中该壳体包括复数螺纹孔,该本体还设有复数装 配孔,该等装配孔为盲孔,复数螺栓通过复数相邻 之螺纹孔和该等装配孔,将该本体固定于该收容空 间中。 6.如申请专利范围第3项所述之工件安装测试系统, 其中该本体还包括一插孔,该插孔与该收容孔相通 ,该插脚穿过该插孔与该探针接触。 7.如申请专利范围第3项所述之工件安装测试系统, 其中该本体还包括一与该开口相对之安装孔和一 固定于该安装孔中之连接部,该安装孔与该收容孔 相通,该连接部被固定于该安装孔中,该连接部包 括一与该收容孔相通之插孔,该插脚穿过该插孔与 该探针接触。 8.如申请专利范围第7项所述之工件安装测试系统, 其中该安装孔为螺纹孔,该连接部之侧部设有螺纹 。 9.如申请专利范围第7项所述之工件安装测试系统, 其中该插孔之孔径小于该插脚之直径。 10.如申请专利范围第7项所述之工件安装测试系统 ,其中该连接部于该插脚插入一端设有一对与该插 孔相通之缺口,该等缺口从该插孔延伸至该连接部 之侧部。 11.一种工件安装测试系统,包括: 一安装设备,包括: 一平台; 一冲头,与该平台相对;以及 一测试装置,固定于该平台上,包括: 一本体,系绝缘材料制成,该本体中设有一收容孔 和一插孔,该插孔与该收容孔相通; 一探针,该探针固定于该收容孔中,并朝向该冲头 伸出,该探针系由导电材料制成;以及 一插头,该插头包括一插脚,该插脚系由导电材料 制成,该插脚通过该插孔与该探针电性连接;以及 一测试电路,该测试电路包括一编程控制电路和一 电源,该编程控制电路和该电源串形连接; 其中,该插脚与该编程控制电路和电源的其中一者 串形连接,而该冲头与该编程控制电路和电源的其 中另一者串形连接。 12.如申请专利范围第11项所述之工件安装测试系 统,其中该本体还包括一安装孔,该安装孔与该收 容孔相通,该本体还包括一连接部,该连接部被固 定于该安装孔中,该插孔位于该连接部上。 13.如申请专利范围第12项所述之工件安装测试系 统,其中该安装孔为螺纹孔,该连接部之侧部设有 螺纹。 14.如申请专利范围第12项所述之工件安装测试系 统,其中该连接部于该插脚插入之一端设有一对与 该插孔相通之缺口,该等缺口从该插孔延伸至该连 接部之侧部。 15.如申请专利范围第12项所述之工件安装测试系 统,其中该插孔之孔径小于该插脚之直径。 图式简单说明: 图1系本新型之工件安装测试系统之示意图。 图2系本新型之测试装置之立体组装图。 图3系本新型之测试装置之另一角度之立体图 图4系图2中测试装置之壳体之剖视图。 图5系图2中测试装置之部分剖视图。 图6系图2中测试装置之进一步剖视图。 图7系本新型之工件安装测试系统之另一实施方式 之示意图。 图8系本新型之测试装置之另一实施方式之剖视图 。 |
