| 主权项 |
1.一种可注入时域抖动之测试方法,其包含下列步 骤: 接收一待测电路之输出讯号; 产生一测试讯号,该测试讯号具有一时域抖动;以 及 输出该测试讯号至该待测电路之接收端。 2.如申请专利范围第1项所述之方法,其另包含下列 步骤: 偏移该测试讯号,使该测试讯号具有一周期抖动。 3.如申请专利范围第2项所述之方法,其中该步骤「 偏移该测试讯号,使该测试讯号具有一周期抖动」 系经由注入一低速测试机台之一输出讯号所产生 。 4.如申请专利范围第3项所述之方法,其中该低速测 试机台之输出讯号的频率低于该待测电路之输出 讯号的频率。 5.如申请专利范围第3项所述之方法,其中该低速测 试机台之输出讯号的频率等于该测试讯号之该周 期抖动的频率。 6.如申请专利范围第1项所述之方法,另包含下列步 骤: 模拟一测试电路之频率响应与时域响应,其中该测 试电路系用以产生该测试讯号。 7.如申请专利范围第6项所述之方法,另包含下列步 骤: 选择一测试电路耦接至该待测电路,其中该测试电 路模拟之频率响应与时域响应接近于该待测电路 之一设计规格。 8.一种可注入时域抖动之测试电路,其包含: 一输入端,用来由一待测电路之输出端接收该待测 电路之输出讯号; 一输出端,系用来输出该测试电路之一测试讯号至 该待测电路之一接收端;以及 一低通滤波器,耦接于该输入端与该输出端,产生 该测试讯号,其中该测试讯号具有一时域抖动。 9.如申请专利范围第8项所述之测试电路,其中该低 通滤波器包含一第一电容,该第一电容之第一端耦 接于该该测试电路之输入端。 10.如申请专利范围第8项所述之测试电路,其另包 含一交流共模电压偏移电路耦接于该低通滤波器, 其中该交流共模电压偏移电路系接收一低速测试 机台之一输出讯号,使该测试讯号具有一周期抖动 。 11.如申请专利范围第10项所述之测试电路,其中该 交流共模电压偏移电路包含一分压电路,系决定该 测试讯号之该周期抖动的振幅。 12.如申请专利范围第11项所述之测试电路,其中该 交流共模电压偏移电路另包含一低通滤波器耦接 于该分压电路与该低速测试机台之间。 13.如申请专利范围第11项所述之测试电路,其中该 交流共模电压偏移电路包含: 一第一电阻,其第一端耦接于该低通滤波器与该输 出端,其第二端耦接至该交流共模电压偏移电路之 该输入端;以及 一第二电阻,其第一端耦接于该该低通滤波器与该 测试电路之输出端,以及该第二电阻之一第二端耦 接于地电位。 14.如申请专利范围第13项所述之测试电路,其中该 交流共模电压偏移电路更包含一第二电容,其第一 端耦接于该第一电阻之第二端,且该第二电容之第 二端耦接于地电位。 15.如申请专利范围第8项所述之测试电路,其另包 含: 一第三电容,其第一端耦接于该低通滤波器,其第 二端耦接于该待测电路之输出端。 16.如申请专利范围第15项所述之测试电路,其中该 第三电容系用以将该待测电路之输出讯号交流耦 合至该低通滤波器。 17.如申请专利范围第10项所述之测试电路,其中该 低速测试机台之输出讯号的频率低于该待测电路 之输出讯号的频率。 18.如申请专利范围第10项所述之测试电路,其中该 低速测试机台之输出讯号的频率等于该该测试讯 号之该周期抖动的频率。 19.如申请专利范围第8项所述之测试电路,其中该 低通滤波器具有一插入损耗,用以决定该测试讯号 之时域抖动及振幅。 20.如申请专利范围第9项所述之测试电路,其中该 第一电容具有一电容値,用以决定该测试电路之一 插入损耗与该输出讯号之时域抖动及振幅。 图式简单说明: 第1图系为习知之以高速测试机台测试待测电子产 品之示意图。 第2图系为以本发明之可注入时域抖动之测试电路 之第一实施例测试待测电子产品之示意图。 第3图系为以本发明之可注入时域抖动之测试电路 之第二实施例测试待测电子产品之示意图。 第4图系为以本发明之可注入时域抖动之测试电路 之第三实施例测试待测电子产品之示意图。 第5图系为本发明之测试电路的方法之流程图。 |
