发明名称 单动针测试治具
摘要 一种单动针测试治具,适用于测试一设置有多数间隔排列之电气接点的电路板,并包含一可界定出多数间隔排列之容置孔并与每一电气接点对应的平板单元,及多数分别设置于多数容置孔中的单动针组。每一单动针组具有一紧贴每一容置孔内的导壳,一可穿伸导壳的导针,及一容置于导壳内恒使导针靠贴于导壳的弹性件。每一导壳具有一朝下弧凸而可抵触该电路板之电气接点的基壁,及一自基壁周缘向上延伸并紧贴于平板单元的周壁,由于每一单动针组只有单一个导针可以移动,可减少移动所造成的刮痕与碎屑的发生,降低杂讯的形成,确保电性检测的精确度。
申请公布号 TWM309111 申请公布日期 2007.04.01
申请号 TW095216992 申请日期 2006.09.22
申请人 环球联通科技股份有限公司 发明人 吴俊贤
分类号 G01R31/28(2006.01) 主分类号 G01R31/28(2006.01)
代理机构 代理人 恽轶群 台北市松山区南京东路3段248号7楼;陈文郎 台北市松山区南京东路3段248号7楼
主权项 1.一种单动针测试治具,适用于测试一设置有多数 个间隔排列之电气接点的电路板,该单动针测试治 具包含: 一平板单元,界定出多数个间隔排列的容置孔,每 一容置孔可与该电路板之每一电气接点相对应;以 及 多数单动针组,分别设置于该平板单元之多数容置 孔中,每一单动针组具有一容置于每一容置孔内并 可导电的导壳,一穿伸于该导壳并可导电的导针, 及一容置于该导壳内恒使该导针靠贴于该导壳的 弹性件,该导壳具有一朝下弧凸而可抵触该电路板 之对应电气接点的基壁,及一自该基壁周缘向上延 伸并紧贴于该平板单元的周壁,该弹性件是分别抵 顶于该基壁与导针。 2.依据申请专利范围第1项所述之单动针测试治具, 其中,该平板单元具有一弹性板,及一固贴于该弹 性板顶面的硬质板,该弹性板上形成有多数可分别 供该多数单动针组之导壳紧贴的贯孔,该硬质板上 形成有多数分别与该多数贯孔相连通的抵靠孔,每 一容置孔是由每一贯孔与抵靠孔组合所构成。 3.依据申请专利范围第2项所述之单动针测试治具, 其中,该平板单元之弹性板为橡胶材质所制成,该 硬质板具有一贴靠该弹性板的板体、多数形成于 该板体上并可分别界定出多数个抵靠孔的内表面, 及多数分别自该多数内表面向内延伸且内径小于 容置其中之导壳外径的环抵部。 4.依据申请专利范围第1、2或3项所述之单动针测 试治具,其中,每一单动针组之导壳更具有一自该 周壁顶缘向内延伸并可用于挡止每一导针的环壁 。 5.依据申请专利范围第4项所述之单动针测试治具, 其中,每一单动针组之导针具有一凸出该硬质板的 针体部,及一自该针体部之周面向外延伸并容置于 该导壳内的挡环部,而每一弹性件是抵顶于该挡环 部,使每一导针是贴靠于该导壳之环壁。 图式简单说明: 图1是一剖面图,说明习知之测试治具是使用双动 针进行一电路板的电性检测; 图2是一立体图,说明本新型之单动针测试治具的 较佳实施例;及 图3是一剖面图,说明该较佳实施例是针对电路板 进行电性检测。
地址 高雄市左营区文学路413号