| 主权项 |
1.一种以电子显微镜观察活体单元之方法,包含有 下列步骤: A.于一电子显微镜内的样品腔室中提供一活体环 境,该活体环境内具有至少一活体单元及预定环境 条件,该环境条件可使该活体单元维持其基本生理 功能,且该活体环境之上下方具有彼此相对的至少 一对观视窗,该活体单元具有二种以上的物件分别 可承受不同的临界电荷密度; B.以预定强度的粒子束透过该对观视窗照射于该 活体单元于预定区域以及预定时间,并于该电子显 微镜之成像装置上成像;其中,该粒子束的预定强 度与该预定时间的乘积即为预定电荷密度,该预定 电荷密度小于或等于该活体单元被照射区域中被 观测物件的临界电荷密度。 2.依据申请专利范围第1项所述之以电子显微镜观 察活体单元之方法,其中:于步骤A.中,在物件承受 的电荷密度超过临界电荷密度时,该物件即失能或 死亡。 3.依据申请专利范围第1项所述之以电子显微镜观 察活体单元之方法,其中:于步骤B.中,系以预定强 度的粒子束透过该对观视窗照射于该活体单元于 预定次数,每次均照射预定区域以及预定时间并成 像。 4.依据申请专利范围第3项所述之以电子显微镜观 察活体单元之方法,其中:于步骤B.中,该等预定次 数照射的电荷密度相加并扣除掉该环境条件所中 和掉的电荷密度后,系小于或等于该活体单元被照 射区域中被观测物件的临界电荷密度;该照射区域 中有二以上之被观测物件时,该相加后的电荷密度 系小于或等于该等被观测物件中可承受最小临界 电荷密度之物件所对应的临界电荷密度。 5.依据申请专利范围第1项所述之以电子显微镜观 察活体单元之方法,其中:该活体单元系为一活体 细胞,或一细菌,或一病毒,或前述单元之组合。 6.依据申请专利范围第5项所述之以电子显微镜观 察活体单元之方法,其中:各该物件系位于该活体 单元内部或表面或外部。 7.依据申请专利范围第5项所述之以电子显微镜观 察活体单元之方法,其中:各该物件系为细胞内的 细胞核或细胞质或胞器或酵素,该胞器系包含染色 体或蛋白质或粒腺体。 8.依据申请专利范围第1项所述之以电子显微镜观 察活体单元之方法,其中:该活体环境系由一盒体 所形成,各该观视窗系为一开口,分别形成于该活 体环境之顶面以及底面。 9.依据申请专利范围第8项所述之以电子显微镜观 察活体单元之方法,其中:该环境条件系为预定压 力之蒸气,或为预定压力之气体,或为预定压力之 液体,或为前述之混合。 10.依据申请专利范围第8项所述之以电子显微镜观 察活体单元之方法,其中:各该观视窗之口径介于5 m -100m之间;各该活体环境更于其外部形成至 少一缓冲层,至少一对外孔分别形成于该缓冲层的 顶部及底部,该对外孔系与该对观视窗同轴。 11.依据申请专利范围第8项所述之以电子显微镜观 察活体单元之方法,其中:至少一该观视窗封设一 层薄膜。 12.依据申请专利范围第1项所述之以电子显微镜观 察活体单元之方法,其中:该粒子束系为电子束或 离子束或原子束或中子束。 13.依据申请专利范围第1项所述之以电子显微镜观 察活体单元之方法,其中:于步骤A.中,该电子显微 镜系为穿透式电子显微镜(TEM-transmission electron microscope),或为扫瞄穿透式电子显微镜(STEM-scanning transmission electron microscope)。 14.依据申请专利范围第13项所述之以电子显微镜 观察活体单元之方法,其中:于步骤A.中,更包含使 用暗视野(Dark Field)成像技术,或能量滤镜或电子能 损谱分析器,藉以撷取预定之粒子来成像,达到较 佳的成像效果。 图式简单说明: 第一图系本发明一较佳实施例之第一操作示意图 。 第二图系本发明一较佳实施例之原理说明图,显示 使用能量滤镜之操作状态。 第三图系本发明一较佳实施例之第二操作示意图 。 第四图系本发明一较佳实施例之活体环境另一结 构示意图。 第五图系本发明一较佳实施例之第三操作示意图 。 第六图系本发明一较佳实施例之第四操作示意图 。 |
