发明名称 EMULATION AND DEBUG INTERFACES FOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING
摘要
申请公布号 KR20070035570(A) 申请公布日期 2007.03.30
申请号 KR20077001091 申请日期 2007.01.16
申请人 发明人
分类号 G06F9/455;G06F11/16;G06F11/273;G06F11/36 主分类号 G06F9/455
代理机构 代理人
主权项
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