发明名称 Verfahren und Vorrichtung zum hochaufgelösten optischen Abtasten einer Probe
摘要 Ein Verfahren zum hochaufgelösten optischen Abtasten einer Probe, vorzugsweise unter Verwendung eines Laser-Raster-Fluoreszenzmikroskops, wobei die Probe eine Substanz (S1) umfasst, die in unterschiedliche Energiezustände - angeregter und abgeregter Zustand - versetzbar ist, wobei die Probe zur bereichsweisen Erzeugung des angeregten Energiezustandes mit Licht einer Wellenlänge (3) des Anregungsspekturms (1) der Substanz (S1) beleuchtet wird, wobei die Probe zur Erzeugung des abgeregten Zustandes in einem Fokusrandbereich der Anregung mit Licht einer geeigneten Anregungswellenlänge (4) beleuchtet wird und wobei von der Probe ausgehendes Emissionslicht, das aus spontanem Zerfall verbliebener angeregter Energiezustände resultiert, mittels einer Detektionseinrichtung nachgewiesen wird, ist dadurch gekennzeichnet, dass die Probe mindestens eine weitere Substanz (S2) umfasst, die in einen angeregten Energiezustand und in einen abgeregten Zustand überführbar ist, wobei sich Anregungsspektrum (5) und Abregungswellenlänge (8) von denen der ersten Substanz (S1) unterscheiden, wobei beim Abtasten der Probe die Schritte der Anregung und/oder der Abregung und/oder der Detektion für die einzelnen Substanzen (S1, S2) zeitlich voneinander getrennt durchgeführt werden. Des Weiteren ist eine entsprechende Vorrichtung angegeben.
申请公布号 DE102006011556(A1) 申请公布日期 2007.03.29
申请号 DE200610011556 申请日期 2006.03.10
申请人 LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH 发明人 GUGEL, HILMAR
分类号 G01N21/64 主分类号 G01N21/64
代理机构 代理人
主权项
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