| 发明名称 |
Halbleiter-Baustein mit Daten-Ports für simultanen bi-direktionalen Datenaustausch und Methode zum Testen desselben |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE60307405(T2) |
申请公布日期 |
2007.03.29 |
| 申请号 |
DE20036007405T |
申请日期 |
2003.12.05 |
| 申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD. |
发明人 |
CHOI, JUNG-HWAN |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/319;G11C29/12 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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