发明名称 测试球栅阵列形集成电路的测试座
摘要 本实用新型公开了一种测试球栅阵列形集成电路的测试座,包括压座、针盘、转接针盘,所述压座、针盘、转接针盘通过定位销和连接销连接为一体。具有结构简单、体积小、测试精度高、且使用方便的优点。
申请公布号 CN2884204Y 申请公布日期 2007.03.28
申请号 CN200620054523.5 申请日期 2006.01.27
申请人 冯有才 发明人 冯有才
分类号 G01R1/02(2006.01);G01R31/28(2006.01) 主分类号 G01R1/02(2006.01)
代理机构 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 代理人 蒋海燕
主权项 1、一种测试球栅阵列形集成电路的测试座,其特征在于,包括压座(A)、针盘(B)、转接针盘(C),所述压座(A)、针盘(B)、转接针盘(C)通过定位销(a)和连接销(b)连接为一体。
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