发明名称 同轴多测点测试棒
摘要 本发明公开了一种同轴多测点测试棒,包括绝缘外壳,其特征在于所述的绝缘外壳轴心设有可伸缩金属探针,围绕所述的可伸缩金属探针至少设有一个同轴金属探针,各探针之间相互绝缘。本发明的同轴多测点测试棒,同轴设置的可伸缩探针与同轴金属探针可共同作用于被测物体,实现对同一测量部位的两点或多点同时测量的功能,配合仪表内部电路以消除测量引线电阻带来的测量误差,保证测量精度;同时同轴金属探针的截面较大,可以通过较大电流的,因而可以解决测量场合应用的局限,使其可以适用于多种信号的测量,特别是大电流信号的测量。
申请公布号 CN1936595A 申请公布日期 2007.03.28
申请号 CN200610053269.1 申请日期 2006.09.05
申请人 杭州高特电子设备有限公司 发明人 徐剑虹;吴易坤;王永超
分类号 G01R1/06(2006.01);G01R1/067(2006.01);G01R1/073(2006.01);G01R27/02(2006.01);G01R27/14(2006.01) 主分类号 G01R1/06(2006.01)
代理机构 浙江杭州金通专利事务所有限公司 代理人 沈孝敬
主权项 1、同轴多测点测试棒,包括绝缘外壳(3),其特征在于所述的绝缘外壳(3)轴心设有可伸缩金属探针(5),围绕所述的可伸缩金属探针(5)至少设有一个同轴金属探针(4),各探针之间相互绝缘。
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