发明名称 一维冲击强度测试装置
摘要 本发明公开一种一维冲击强度测试装置,用于测试一模拟头垂直下落对地面的冲击强度,它包括模拟头下落架、设于模拟头下落架上的光控开关、设于模拟头上的加速度传感器和遮光隔板、以及测试主机。该遮光隔板经过光控开时触发光控开关产生两次中断信号,加速度传感器测量模拟头撞击地面时的加速度并传输给测试主机。测试主机对采样和保存加速度数据,并计算加速度峰值和头部伤害评判(HIC)值,以及对两次中断信号的时差计时以计算模拟头下落高度值,并将这些数据保存和显示。本发明一维冲击强度测试装置具有较高的采样速率和滤波器转折频率,能够精确测量加速度数据和计算头部伤害评判值,并精确计算对应每次冲击的高度。
申请公布号 CN1936535A 申请公布日期 2007.03.28
申请号 CN200510111195.8 申请日期 2005.12.07
申请人 上海浩顺科技有限公司 发明人 何序新;约翰·邓洛普;潘建;张叔英;顾从润;唐永平
分类号 G01N3/30(2006.01);G01N3/48(2006.01) 主分类号 G01N3/30(2006.01)
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 代理人 左一平
主权项 1.一种一维冲击强度测试装置,用于测试一模拟头垂直下落对地面的冲击强度,它包括模拟头下落架、设于模拟头上的加速度传感器、以及测试主机;其特征在于:所述模拟头下落架包括可供模拟头垂直下落的导轨,还包括设于导轨下部的光控开关;所述模拟头顶部与所述光控开关对应的一侧设有一可遮光隔板;所述测试主机包括信号放大器、滤波器、模数转换器、微处理器、计时器、非易失性存储器以及传感器电源;其中:所述信号放大器、滤波器和模数转换器依次连接在所述加速度传感器和所述微处理器之间,用以对微处理器提供加速度数字信号;所述计时器与所述微处理器连接,用于测量模拟头撞击地面前所述隔板经过光控开关所用的时间;所述微处理器检测所述光控开关的输入信号,并控制所述计时器的计时,以及控制所述模数转换器采样加速度数据;微处理器还计算模拟头下落高度、加速度峰值和头部伤害评判值并保存;所述非易失性存储器与所述微处理器连接,用以保存数据;所述传感器电源与所述加速度传感器连接,以对其供电。
地址 200082上海市龙江路214号