发明名称 用于测试一个存储器阵列的方法和带有一个故障响应信号通知模式的可测试的基于存储器的设备 ,用于当在故障模式中发现预定的对应关系时仅以一个无损耗压缩响应的形式用信号通知这样一个故障模式
摘要 通过配对连接一个激励发生器和一个响应鉴别器测试一种存储器阵列,特别是一种嵌入式存储器阵列。在不处于测试状态时引导所述配对处于透明方式,并且在测试状态时分别处于一个激励发生方式和一个响应鉴别方式。在随后的阵列修理状态中允许建立行和/或列介入修理。特别是,鉴别器将鉴别连续的故障模式的对应关系,并且另外把一个故障响应通知信号模式到外部电路,仅以一个无损耗压缩响应模式的形式根据在一个早先的故障模式和一个随后的故障模式之间的预定对应关系向两个被比较的模式中的一个发送通知信号。
申请公布号 CN1307648C 申请公布日期 2007.03.28
申请号 CN00801460.4 申请日期 2000.07.17
申请人 皇家菲利浦电子有限公司 发明人 E·J·马里尼森;G·E·A·洛斯博格;P·维拉格
分类号 G11C29/00(2006.01) 主分类号 G11C29/00(2006.01)
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 梁永
主权项 1.一种用于测试存储器阵列的方法,通过把一个激励发生器和一个响应鉴别器配对连接到所述阵列,同时在不处于测试状态时引导所述配对处于透明方式,在测试状态时引导所述配对分别处于一个激励发生方式和一个响应鉴别方式,并且在随后的阵列修理状态中允许建立行和/或列介入修理,所述方法的特征在于,通过所述的鉴别器鉴别连续的故障模式中的对应关系,而且还提供一个故障响应发送信号通知方式到外部电路,所述外部电路仅以一个无损耗压缩响应模式的形式根据在一个早先的故障模式和一个随后的故障模式之间的预定对应关系向所述两个模式中的一个发送通知信号。
地址 荷兰艾恩德霍芬
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