发明名称 干涉仪及其补偿色散和/或增大光谱分辨率的方法
摘要 本发明涉及一个双光束电磁辐射干涉仪(1)以及补偿色散和增大这种干涉仪光谱分辨率的方法。采用位于光路中的偏振片(8)产生进入干涉仪臂中的部分电磁波的限定偏振状态P<SUB>1/2</SUB><SUP>0</SUP>,这里,这一偏振状态与波长无关,并对两个光束分量可以不同。可以采用光学元件(11、12)来改变部分电磁波的偏振状态P<SUB>1/2</SUB><SUP>0</SUP>,它是波长λ的函数,以及用偏振P<SUB>1/2</SUB>(λ<SUB>i</SUB>)对每个光谱分量λ<SUB>i</SUB>进行编码。位于干涉仪输出端的分析仪(9)透射可调偏振状态P<SUB>det</SUB>,由此产生光谱分量的部分波之间的与波长有关的附加相位差γ(λ)。可以设定γ(λ),以补偿色散或增大干涉仪的光谱分辨率。
申请公布号 CN1307411C 申请公布日期 2007.03.28
申请号 CN97197058.0 申请日期 1997.08.01
申请人 德国电信股份有限公司 发明人 W·杜尔兹;E·弗林斯;B·希尔斯;H·施米茨
分类号 G01J9/02(2006.01);G01B9/02(2006.01) 主分类号 G01J9/02(2006.01)
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 代理人 李玲
主权项 1.一种由至少两个干涉仪臂(6、7)和一个分束器(3)组成的电磁辐射干涉仪,这里,来自电磁辐射源(2)的光束被分束器(3)分束成两个光束分量并提供给两个干涉仪臂(6、7)中每个臂;在它们通过干涉仪臂后,与干涉仪臂中光程差Δln和波长λ有关的相位差<img file="C971970580002C1.GIF" wi="322" he="110" />被同一或另一分束器(3)叠加在光束分量上;用检测器(10)测量叠加波的强度,其特征如下:a)设置在光路中的至少一个偏振片(8),它确立进入干涉仪臂中的部分电磁波的限定偏振状态P<sub>1/2</sub><sup>0</sup>,这里偏振状态与波长无关,并对两个光束分量可以不同;b)在至少一个干涉仪臂(6、7)中设置的至少一个光学元件(11、12),光学元件改变部分电磁波的偏振状态P<sub>1/2</sub><sup>0</sup>,是波长λ的函数,即用偏振P<sub>1/2</sub>(λ<sub>i</sub>)对每个光谱分量进行编码,使得部分电磁波取偏振状态P<sub>1</sub>(λ)或P<sub>2</sub>(λ),由此,在普安卡雷(Poincare)偏振球上示出的区域P<sub>1</sub>(λ)和P<sub>2</sub>(λ)相互至少是部分不同的;c)位于干涉仪输出端的分析仪(9),它透射可调偏振状态P<sub>det</sub>,由此形成每个光谱分量λ<sub>i</sub>的投影P<sub>det</sub>(P<sub>1/2</sub>(λ))并产生光谱分量的部分波之间的与波长有关的附加相位差γ(λ),这里γ是P<sub>1/2</sub>(λ)和P<sub>det</sub>的函数。
地址 联邦德国波恩