TEST PATTERN FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD OF FORMING AND TESTING THEREOF,申请号KR20050100767-传众专利搜索

发明名称	TEST PATTERN FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD OF FORMING AND TESTING THEREOF
摘要
申请公布号	KR100702765(B1)	申请公布日期	2007.03.27
申请号	KR20050100767	申请日期	2005.10.25
申请人	HYNIX SEMICONDUCTOR INC.	发明人	HU, HYUN
分类号	H01L21/66	主分类号	H01L21/66
代理机构		代理人
主权项
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