| 摘要 |
<p>Изобретение относится к области радиоэлектроники, оптоэлектроники и оптики и касается технологической оснастки и приспособлений для обработки кристаллов, а более конкретно к устройствам для прецизионной ориентированной резки кристаллов на станках для абразивной резки стальными полотнами кварца, цинкита, лангасита и др.</p>
<p>Устройство для ориентированной наклейки кристаллических секций содержит рентгенгониометр, установленную на последнем в горизонтальной плоскости под постоянным для выбранной атомной плоскости углом к падающему рентгеновскому лучу металлическую плату с закрепленной на ней стеклянной подложкой под кристаллическую секцию и упор, контактирующий со срезом последней, при этоми упор выполнен с двумя плоскими поверхностями, расположенными под углом друг к другу с образованием ребра, контактирующего со срезом кристаллической секции.</p> |
