发明名称 |
Konfokalmikroskop und Verfahren zur Detektion mit einem Konfokalmikroskop |
摘要 |
Es ist ein Kornfokalmikroskop offenbart, das mit mindestens einer Lichtquelle eine Probe (10) beleuchtet. Von der Probe (10) geht ein Detektionslichtstrahl (12) aus. Mit einem dispersiven Element (20) wird der Detektionslichtstrahl (17) räumlich spektral aufgespalten und schließlich mit einer Detektoroptik (22) auf einen Photosensor-Chip (19) abgebildet. Mindestens eine Aufweitungsoptik (23) ist vor dem dispersiven Element (20) in Richtung des Detektionslichtstrahls (17) angeordnet. Die Aufweitungsoptik (23) ist derart ausgebildet, dass die numerische Apertur der Detektoroptik (22) unabhängig von der numerischen Apertur des Detektionslichtstrahls (17) an der Detektionslochblende (18) ist.
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申请公布号 |
DE102005042890(A1) |
申请公布日期 |
2007.03.22 |
申请号 |
DE200510042890 |
申请日期 |
2005.09.09 |
申请人 |
LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH |
发明人 |
SEYFRIED, VOLKER;SCHREIBER, FRANK |
分类号 |
G02B21/00;G01B11/14;G01B11/24 |
主分类号 |
G02B21/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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