| 主权项 |
1.一种量测治具,系用以测量一镜片之偏芯距离,该 量测治具包含: 一转动构件,具有一凹槽与一第一中空轴心,该凹 槽可供置放该镜片;以及 一固定底座,具有一支撑部与一第二中空轴心,该 支撑部系可供该转动构件置放在该固定底座上,以 使得该转动构件定位在该固定底座之上; 其中,当该转动构件定位在该固定底座之上时,该 第一中空轴心与该第二中空轴心系连成一光轴线, 该第一中空轴心系与该凹槽紧邻,可使得光线沿着 该光轴线穿出该凹槽,且该转动构件可稳定地沿着 该光轴线旋转,以达成测量该镜片之偏芯距离。 2.如申请专利范围第1项所述之量测治具,其中该转 动构件系实质略成圆柱体,且该凹槽系位在该转动 构件之上表面。 3.如申请专利范围第1项所述之量测治具,其中该支 撑部具有两延伸壁,且该两延伸壁系实质略成V形, 每个延伸壁系分别与该转动构件相接触,并可使该 转动构件定位在该固定底座之上。 4.如申请专利范围第1项所述之量测治具,其中该支 撑部系包括两个支撑柱,每个支撑柱系分别与该转 动构件相接触,并可使该转动构件定位在该固定底 座之上。 5.如申请专利范围第1项所述之量测治具,其中该支 撑部系藉由一固定件固定在该固定底座。 6.如申请专利范围第1项所述之量测治具,其中该支 撑部与该固定底部系一体成形。 7.如申请专利范围第1项所述之量测治具,其中该转 动构件进一步包含至少一沟槽,该沟槽系自该凹槽 向外延伸。 8.如申请专利范围第1项所述之量测治具,其中该量 测治具系设置在一显微镜上,该显微镜具有一导光 装置与一平台,其中该导光装置上具有一记号,该 量测治具系放置在该平台上,藉由旋转调整该转动 构件可使得该导光装置之该记号对准该镜片。 9.如申请专利范围第8项所述之量测治具,其中该平 台系与一水平面具有一特定夹角,该转动构件可藉 由该特定夹角之倾斜产生下滑力,以接触该支撑部 ,并使得该转动构件定位在该固定底座之上。 图式简单说明: 图1系本创作之立体分解示意图。 图2系依据图1组合之后,显示其上视图。 图3系本发明之另一实施例之上视图。 图4系将图2之组合之后的量测治具放置到显微镜, 显示其侧视图。 |
