发明名称 | 彩色显像管电子束配列测试方法及装置 | ||
摘要 | 本发明涉及一种利用计算机图像处理技术进行彩色显像管电子束配列的测试方法及装置,即将待测彩管荧光屏上4的电子束配列图像读入计算机6,通过电磁扰动和采样来识别电子束群组的典型间距,算出电子束配列聚散因子。其工作原理如下:彩色显像管荧光屏4的电子束受磁扰动后,外轮廓的斑点显现于荧光粉条之间,用带电磁7的摄像探头5将电子束外轮廓斑点显现于荧光粉条之间的图像摄入计算机6,对其截面的亮度分布进行分析,并对电子束群组典型间距a、b值进行计算,然后算出电子束配列聚散因子。应用本发明可方便的测试出电子束配列值,使测量过程快速高效,同时提高了测量精度,在实践中具有很好的效果。 | ||
申请公布号 | CN1306543C | 申请公布日期 | 2007.03.21 |
申请号 | CN03134624.3 | 申请日期 | 2003.09.27 |
申请人 | 彩虹集团电子股份有限公司 | 发明人 | 李勇军;费民权;鲁小平;赵军 |
分类号 | H01J9/42(2006.01) | 主分类号 | H01J9/42(2006.01) |
代理机构 | 西安通大专利代理有限责任公司 | 代理人 | 张军 |
主权项 | 1、一种彩色显像管电子束配列测试方法,将待测彩色显像管荧光屏(5)的会聚和着屏调整到正常状态;其特征在于用计算机图像处理技术对彩色显像管电子束配列进行测试,包括以下步骤:a、将装有电磁扰动器(7)的摄像探头(5)贴在荧光屏(4)上,并对电子束(3)进行电磁扰动;b、经过电磁扰动的电子束(3)位于荧光屏黑底(1)中间并在黑底(1)的两边荧光粉条中显见时,用摄像探头(5)将荧光屏上电子束(3)配列图像读入计算机(6);c、计算机(6)将读入的电子束配列图像数据用最小二乘法进行拟合,形成完整的电子束图像并找出电子束中心,分析在无黑底影响时的电子束截面的亮度分布;d、计算机(6)对兰、红电子束间距a和电子束群组间距b进行采样,并根据a、b值按照公式<img file="C031346240002C1.GIF" wi="154" he="105" />计算出电子束配列的聚散因子;e、计算机(6)完成对计算数据的分析、计算、存储和显示。 | ||
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