发明名称 |
一种新型眼镜框轨迹检测仪 |
摘要 |
本实用新型公开了一种新型的眼镜框轨迹检测仪,其主要特征是:采用了容栅位移传感器技术,壳体内配置有“7”字型测试探头,将容栅位移传感器分别配置在“7”字型测试探头的竖边上和读轨座上,测试探头沿眼镜框轨迹移动,移动高度由附在测试探头竖边上的容栅位移传感器测出。径向位移由附在读轨座上的容栅位移传感器测出,采集到的坐标数据,经电脑计算,结果显示在液晶屏幕上。这种眼镜框轨迹检测仪,测量数据精度高,比进口的高一个数量级,而且结构简单,价格低廉。 |
申请公布号 |
CN2881550Y |
申请公布日期 |
2007.03.21 |
申请号 |
CN200620033626.3 |
申请日期 |
2006.03.25 |
申请人 |
桂林电子工业学院 |
发明人 |
郭庆;陈尚松;陈淑文;胡锦泉 |
分类号 |
G01D5/12(2006.01);G01B7/02(2006.01);G01M11/00(2006.01) |
主分类号 |
G01D5/12(2006.01) |
代理机构 |
桂林市华杰专利事务所有限责任公司 |
代理人 |
罗玉荣 |
主权项 |
1.一种新型眼镜框轨迹检测仪,包括壳体(1)、配置在壳体(1)内的工控计算机和传动控制装置,其特征是:在壳体(1)的外壳上设置有与工控计算机连接的液晶显示屏(4)、读轨座(3)、控制键盘(2),在壳体(1)内设置有测试探头(6),测试探头(6)的竖边上设置有容栅位移传感器(5),在读轨座(3)上也配装有容栅位移传感器(5)。 |
地址 |
541004广西壮族自治区桂林市金鸡路1号桂林电子工业学院 |