| 发明名称 | 用以检查内连线的测试键及检查内连线的方法 | ||
| 摘要 | 一种用以检查内连线的测试键，包括一连续金属线及其上的多个导电插塞。其中，每一导电插塞的一端与连续金属线接触，且至少有一导电插塞的另一端不与任何导体连接。另外，连续金属线的两端连接至不同的电压。本发明还涉及检查内连线的方法。 | ||
| 申请公布号 | CN1933144A | 申请公布日期 | 2007.03.21 |
| 申请号 | CN200510099538.3 | 申请日期 | 2005.09.13 |
| 申请人 | 联华电子股份有限公司 | 发明人 | 郑彦升;王学文;廖书筠;简志颖;吕欣育;郑瑞煌 |
| 分类号 | H01L23/544(2006.01);H01L21/66(2006.01) | 主分类号 | H01L23/544(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 陶凤波;侯宇 |
| 主权项 | 1、一种用以检查内连线的测试键，包括：一连续金属线；以及多个导电插塞，位于该连续金属线上，其中每一导电插塞的一端与该连续金属线接触，且其中至少有一导电插塞的另一端不与任何导体连接；其中，该连续金属线的两端连接至不同的电压。 | ||
| 地址 | 台湾省新竹科学工业园区 | ||