CIRCUIT ARRANGEMENT AND METHOD OF TESTING AN APPLICATION CIRCUIT PROVIDED IN SAID CIRCUIT ARRANGEMENT,申请号EP20050752048-传众专利搜索

发明名称	CIRCUIT ARRANGEMENT AND METHOD OF TESTING AN APPLICATION CIRCUIT PROVIDED IN SAID CIRCUIT ARRANGEMENT
摘要
申请公布号	EP1763677(A2)	申请公布日期	2007.03.21
申请号	EP20050752048	申请日期	2005.06.27
申请人	PHILIPS INTELLECTUAL PROPERTY & STANDARDS GMBH;KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.	发明人	WITTKE, M.;HAPKE, F.
分类号	G01R31/3187	主分类号	G01R31/3187
代理机构		代理人
主权项
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