| 发明名称 | 光检测装置 | ||
| 摘要 | 本发明目的在提供一种入射光量检测动态范围大，温度依赖小的光检测装置。第一信号处理部(10<SUB>m，n</SUB>)包含积分电路(11)、第一保持电路(12)、比较电路(13)、第二保持电路(14)以及闩锁电路(15)。积分电路(11)具有选择性地设成多个电容值中任意一个电容值的可变电容部，经过与在可变电容部设定的电容值相对应的储存期间将从光电二极管输出的电荷储存于可变电容部，输出与所储存的电荷量相对应的电压(V<SUB>1</SUB>)。比较电路(13)输入从积分电路(11)所输出的电压(V<SUB>1</SUB>)，比较电压(V<SUB>1</SUB>)和基准电压(V<SUB>ref</SUB>)的大小，输出表示比较结果的比较信号(S<SUB>3</SUB>)，在任意一个储存期间终了时从积分电路(11)输出的电压(V<SUB>1</SUB>)比基准电压(V<SUB>ref</SUB>)小时，指示第一保持电路(12)保持该电压。 | ||
| 申请公布号 | CN1934430A | 申请公布日期 | 2007.03.21 |
| 申请号 | CN200580008533.3 | 申请日期 | 2005.03.17 |
| 申请人 | 浜松光子学株式会社 | 发明人 | 水野诚一郎;舩越晴宽;高哲也 |
| 分类号 | G01J1/44(2006.01);H01L31/10(2006.01) | 主分类号 | G01J1/44(2006.01) |
| 代理机构 | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人 | 龙淳 |
| 主权项 | 1.一种光检测装置，其特征在于，具有：光电二极管，发生与入射光量相对应的量的电荷；积分电路，具有选择性地设成K个电容值C1～CK中任意一个的电容值Cn的可变电容部，在与该可变电容部中被设定的电容值Ck相对应的储存期间Tk中，将从所述光电二极管输出的电荷储存于所述可变电容部，并输出与该储存的电荷量相对应的电压；以及，第一保持电路，保持在储存期间T1～TK中任意一个储存期间Tk 终了时从所述积分电路输出的电压，并输出该保持的电压；比较电路，输入从所述积分电路或所述第一保持电路输出的电压，比较该输入的电压和基准电压的大小，输出表示该比较结果的比较信号，同时，在任意一个储存期间Tk终了时从所述积分电路或所述第一保持电路输出的电压比所述基准电压小时，指示所述第一保持电路保持该电压；其中，比(Tk/Ck)的值因k值而不同，其中，K是2以上的整数，k是1以上K以下的任意整数。 | ||
| 地址 | 日本静冈县 | ||