发明名称 SEMICONDUCTOR PARALLEL TESTER
摘要
申请公布号 KR100696321(B1) 申请公布日期 2007.03.19
申请号 KR20017016669 申请日期 2001.12.27
申请人 发明人
分类号 G01R31/26;H01L21/66 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
地址