判断积体电路处理速度之测试系统与测试方法

摘要

一种判断积体电路处理速度之测试系统与测试方法。该测试系统包含一内建时脉输出装置与一判断单元。测试方法系利用积体电路所需延迟时间的长短来反映积体电路之处理速度。