发明名称 低泄漏电晶体及其制造方法
摘要 硼离子流可用以将诸如硼离子之离子植入诸如一NFET活性区之一活性区之侧壁中。该硼离子流具有相对于该等侧壁及/或该矽装置之垂直倾斜角及水平旋转分量,以提供至该等侧壁之较佳视线。此可允许该矽装置之组件移动而更靠近但不会过度地降低NFET活性区侧壁之硼掺杂之有效性,并在以STI材料填充周围沟槽之前提供至一NFET活性区之侧壁之硼离子流的改良视线。
申请公布号 TW200711002 申请公布日期 2007.03.16
申请号 TW095125325 申请日期 2006.07.11
申请人 东芝股份有限公司 发明人 幸山裕亮
分类号 H01L21/335(2006.01) 主分类号 H01L21/335(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本