发明名称 金属氧化物半导体薄膜、结构及方法
摘要 用于提升半导体装置性能的材料与结构包括ZnBeO合金材料、ZnCdOSe合金材料、含有镁以利晶格匹配之ZnBeO合金材料、以及BeO材料。在ZnBeO合金系统(亦即Zu1-xBexO)中,可改变Be的原子比例x来增加氧化锌的能带间隙值,以使其高于氧化锌的能带间隙值;而在ZnCdOSe合金系统(亦即Zn1-yCdyO1-zSez)中,可改变Cd的原子比例y与Se的原子比例z来降低氧化锌的能带间隙值,以使其低于氧化锌的能带间隙值。利用所选择之掺质元素,所形成的每一种合金可为未经掺杂、p型掺杂、或n型掺杂;这些合金可以单独或以组合方式加以使用,以形成可发射一定范围波长值的主动光子层、如单一与多重量子井之异质结构、以及超晶格层或覆层,并可用以制造光学或电子半导体装置。这些就可用于提升半导体装置的功能、容量与性能。
申请公布号 TW200711058 申请公布日期 2007.03.16
申请号 TW095111337 申请日期 2006.03.30
申请人 莫克斯托尼克斯股份有限公司 发明人 陆永瑞;李泰锡;亨利W. 怀特
分类号 H01L21/86(2006.01);H01L33/00(2006.01);H01S5/00(2006.01) 主分类号 H01L21/86(2006.01)
代理机构 代理人 蔡清福
主权项
地址 美国