发明名称 薄膜晶体管及低温多晶硅薄膜晶体管之多晶硅层的制造方法
摘要 一种薄膜晶体管的制造方法,其包括下列步骤:首先,于基板上形成非晶硅层。接着,于此非晶硅层上形成第一栅绝缘层。之后,进行退火工艺,以使上述非晶硅层熔融后再结晶而成为多晶硅层。然后,图案化此第一栅绝缘层与多晶硅层,以定义出岛状图案。之后,再于此岛状图案上形成栅极。最后,于此岛状图案的多晶硅层中形成源极区与漏极区。在进行退火工艺之后,多晶硅层与栅绝缘层之间的间界致密性将会变得更为紧密,此即有助于减少薄膜晶体管元件在工作时产生的漏电流。
申请公布号 CN1929099A 申请公布日期 2007.03.14
申请号 CN200510098484.9 申请日期 2005.09.08
申请人 中华映管股份有限公司 发明人 何明彻;杨芸佩;刘博智;吕佳谦
分类号 H01L21/336(2006.01);H01L21/20(2006.01) 主分类号 H01L21/336(2006.01)
代理机构 北京连和连知识产权代理有限公司 代理人 王昕
主权项 1.一种薄膜晶体管的制造方法,其特征在于包括:于基板上形成非晶硅层;于该非晶硅层上形成第一栅绝缘层;进行退火工艺,以使该非晶硅层熔融后再结晶而成为多晶硅层;图案化该第一栅绝缘层与该多晶硅层,以定义出岛状图案;于该岛状图案上形成栅极;以及于该岛状图案的该多晶硅层中形成源极区与漏极区。
地址 台湾省台北市中山北路三段二十二号