| 发明名称 | 结构弯曲的分布式测量系统 | ||
| 摘要 | 本发明涉及用于对结构的轴向和弯曲变形进行分布式或分散式测量的系统，包括至少一个为这些轴向和弯曲变形进行分布式或分散式测量而配备的线状设备(10)，以及用于处理由上述设备生成的测量信号的装置，其中每个设备包括圆柱性加强件(11)，用于支撑其周围至少3条局部平行于该加强件轴线的光纤(12)，而且其中该处理装置提供了用于对来自诸光纤的信号进行谱分或时分多路传输的装置。 | ||
| 申请公布号 | CN1930507A | 申请公布日期 | 2007.03.14 |
| 申请号 | CN200580007776.5 | 申请日期 | 2005.03.09 |
| 申请人 | 原子能委员会 | 发明人 | 西尔万·马涅;皮埃尔·费迪南 |
| 分类号 | G02B6/44(2006.01) | 主分类号 | G02B6/44(2006.01) |
| 代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人 | 刘炳胜 |
| 主权项 | 1、一种用于结构的轴向和弯曲变形的分布式或分散式测量的系统，包括至少一个为这些轴向和弯曲变形进行分布式或分散式测量而配备的线状设备(10)，以及用于处理由上述设备生成的测量信号的装置，其特征在于，每个设备包括圆柱形加强件(11)，用于支持其周围至少3条局部平行于该加强件轴线的光纤(12)，而且，该处理装置提供了用于对来自光纤的信号进行谱分或时分多路传输的装置。 | ||
| 地址 | 法国巴黎 | ||