发明名称 累加断层分析图像产生方法和X射线CT设备
摘要 为了消除局部体积对通过累加具有不同切片厚度的多个断层分析图像而产生累加断层分析图像的影响,对行数据Ij(j=1-J)实施偏移校正和灵敏度校正,由所述数据可以重构各个断层分析图像Gj;通过利用相应于切片厚度Tj的权Tj/∑Tj对数据Ij进行加权相加而产生累加数据K;对累加数据进行对数处理;以及然后对累加数据进行重构处理,从而产生累加的断层分析图像G。
申请公布号 CN1303941C 申请公布日期 2007.03.14
申请号 CN01132515.1 申请日期 2001.08.31
申请人 GE医疗系统环球技术有限公司 发明人 贯井正健;西出明彦
分类号 A61B6/03(2006.01);G01N23/00(2006.01) 主分类号 A61B6/03(2006.01)
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 陈霁;梁永
主权项 1.一种累加断层分析图像产生方法,包括以下步骤:对重构各个断层分析图像的行数据进行偏移校正;通过对所述偏移校正后的行数据进行数学计算而产生累加数据,其中所述进行数学计算包括将来自一个多行X射线检测器的行中的行数据相加;对所述累加数据进行灵敏度校正;对灵敏度校正后的累加数据进行对数处理;以及对所述对数处理后的累加数据进行重构,从而产生累加的断层分析图像。
地址 美国威斯康星州