发明名称 X射线应力测量标定试样的制备方法
摘要 一种用于材料分析测试技术领域的X射线应力测量标定试样的制备方法,其步骤包括:(1)材料调质:锻造后经过调质处理,去除材料中晶粒粗大及晶面择优取向现象;(2)喷丸预应力:加工出标定试样的毛坯,对其端面进行喷丸预应力处理;(3)电化学腐蚀:利用电化学腐蚀方法,对标定试样应力梯度较大的表层部分进行逐层剥离;(4)应力测量:在电化学腐蚀剥层过程中进行X射线应力测量,从应力与层深之间关系曲线上确定出标定试样的工作表面。本发明所制备的X射线应力测量标定试样,用于标定X射线应力仪系统,确保仪器的良好工作状态。标定试样表面美观,不易生锈,易于现场操作即省略了复杂的附属装置,表面应力长期保持稳定,可以提高测量结果的可靠性。
申请公布号 CN1304829C 申请公布日期 2007.03.14
申请号 CN200510023292.1 申请日期 2005.01.13
申请人 上海交通大学 发明人 姜传海;洪波
分类号 G01N1/28(2006.01);G01N23/207(2006.01);G01L1/25(2006.01) 主分类号 G01N1/28(2006.01)
代理机构 上海交达专利事务所 代理人 王锡麟;王桂忠
主权项 1、一种X射线应力测量标定试样的制备方法,其特征在于,具体步骤如下:(1)材料调质:标定试样选择铁素体不锈钢,锻造后经过调质处理,消除材料中晶粒粗大及织构现象;(2)喷丸预应力:加工出标定试样的毛坯,对其端面进行喷丸预应力处理;(3)电化学腐蚀:利用电化学腐蚀方法,对标定试样应力梯度较大的表层部分进行逐层剥离;(4)应力测量:在电化学腐蚀剥层过程中进行X射线应力测量,从应力与层深之间关系曲线上确定出标定试样的工作表面,当应力与层深关系曲线接近水平时,即获得标定试样的工作表面。
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