发明名称 薄膜晶体管的制造方法、薄膜晶体管以及像素结构
摘要 一种薄膜晶体管的制造方法,包括下列步骤。首先,在基板上形成多晶硅岛状物。接着,在多晶硅岛状物上形成图案化栅极介电层与栅极。继之,在栅极下方两侧的多晶硅岛状物中形成源极/漏极,而源极/漏极之间是通道区。再来,在基板上形成金属层,覆盖栅极、图案化栅极介电层与多晶硅岛状物。接着,使位于源极/漏极上方的金属层与多晶硅岛状物反应而形成硅化金属层。再来,移除未反应的金属层。继之,形成层间介电层,其覆盖基板。之后,移除源极/漏极上方的层间介电层而形成源极/漏极接触孔开口,其中硅化金属层是作为移除终止层。此薄膜晶体管的制造方法可以制造尺寸精细的源极/漏极接触孔开口,且硅化金属层可降低接触阻抗值。
申请公布号 CN1929100A 申请公布日期 2007.03.14
申请号 CN200510098666.6 申请日期 2005.09.07
申请人 中华映管股份有限公司 发明人 刘博智;方俊雄;何明彻;吕佳谦
分类号 H01L21/336(2006.01);H01L29/786(2006.01);H01L27/00(2006.01) 主分类号 H01L21/336(2006.01)
代理机构 北京连和连知识产权代理有限公司 代理人 王永红
主权项 1.一种薄膜晶体管的制造方法,其特征在于包括:在基板上形成多晶硅岛状物;在该多晶硅岛状物上形成图案化栅极介电层与栅极;在该栅极下方两侧的该多晶硅岛状物中形成源极/漏极,而该源极/漏极之间是通道区;在该基板上形成金属层,覆盖该栅极、该图案化栅极介电层与该多晶硅岛状物;使位于该源极/漏极上方的该金属层与该多晶硅岛状物反应而形成硅化金属层;移除未反应的该金属层;形成层间介电层,其覆盖该基板;以及移除该源极/漏极上方的该层间介电层而形成源极/漏极接触孔开口,其中该硅化金属层是作为移除终止层。
地址 台湾省台北市中山北路三段二十二号