| 主权项 |
1.一种不具独立驱动器且含有一测试针之用于测 试电路板的指状测试器之测试探针,该测试针含有 一探针尖端可被带至接触一电路板测试点并可透 过至少两对弹性定位臂而枢转接合于一座架,其中 至少一定位臂系由导电性电性材料制成并电性连 接至该测试针;其中每组定位臂系被架设于一平面 ,其含有一端固定于该测试针并且另一端固定于该 座架,当自上而下观看时,每组定位臂展开呈一个 三角形。 2.如申请专利范围第1项所述之测试探针,其特征在 于两对定位臂至少包含由导电性电材料所制成的 一定位臂且电性连接至该测试针。 3.如申请专利范围第1项所述之测试探针,其特征在 于该测试针系由一防护层所环绕,该防护层系电性 连接至一定位臂,该定位臂具导电性且接地。 4.如申请专利范围第2项所述之测试探针,其特征在 于该测试针系由一防护层所环绕,该防护层系电性 连接至一定位臂,该定位臂具导电性且接地。 5.如申请专利范围第1项所述之测试探针,其特征在 于当由侧面观看时,该定置臂展开呈一梯形。 6.如申请专利范围第3所述之测试探针,其特征在于 当由侧面观看时,该定位臂展开呈一梯形。 7.如申请专利范围第5项所述之测试探针,其特征在 于较接近该探针尖端之定位臂或该等定位臂的长 度较长于较远离该探针尖端之定位臂或该等定位 臂的长度。 8.如申请专利范围第6项所述之测试探针,其特征在 于较接近该探针尖端之定位臂或该等定位臂的长 度较长于较远离该探针尖端之定位臂或该等定位 臂的长度。 9.如申请专利范围第1项所述之测试探针,其特征在 于由侧面观看,较远离该探针尖端的定位臂(6、7) 之长度标示为变数a,较接近该探针尖端的定位臂(8 、9)之长度标示为变数b,测试针(2)之长度标示为变 数L,测试针(2)介于各定位臂之间的区段标示为变 数L0,且此等长度满足以下关系式: 10.如申请专利范围第8项所述之测试探针,其特征 在于由侧面观看,较远离该探针尖端的定位臂(6、7 )之长度标示为变数a,较接近该探针尖端的定位臂( 8、9)之长度标示为变数b,测试针(2)之长度标示为 变数L,测试针(2)介于各定位臂之间的区段标示为 变数L0,且此等长度满足以下关系式: 11.如申请专利范围第1项所述之测试探针,其特征 在于该等定位臂至少部分被一防护层环绕。 12.如申请专利范围第10所述之测试探针,其特征在 于该等定位臂至少部分被一防护层环绕。 13.如申请专利范围第1项所述之测试探针,其特征 在于提供一预张力元件(29a),以一特定量沿接触之 相反方向预拉该等定位臂。 14.如申请专利范围第12项所述之测试探针,其特征 在于提供一预张力元件(29a),以一特定量沿接触之 相反方向预拉该等定位臂。 15.如申请专利范围第1项所述之测试探针,其特征 在于提供一定位感应器以决定该测试针相对于该 座架之位置。 16.如申请专利范围第14项所述之测试探针,其特征 在于提供一定位感应器以决定该测试针相对于该 座架之位置。 17.如申请专利范围第15项所述之测试探针,其特征 在于该位置感应器具有一光电开关,含一光学测量 件设于该座架上,且该位置感应器有一测量片以岔 断设于该测试针上的光学测量件。 18.如申请专利范围第16项所述之测试探针,其特征 在于该位置感应器具有一光电开关,含一光学测量 件设于该座架上,且该位置感应器有一测量片以岔 断设于该测试针上的光学测量件。 19.如申请专利范围第17项所述之测试探针,其特征 在于该光学测量件具有一预设延伸方向大致与该 测试针移动方向成直角,且该测量片有一岔断边缘 ,其与该光学测量件之延伸方向成一角度。 20.如申请专利范围第18项所述之测试探针,其特征 在于该光学测量件具有一预设延伸方向大致与该 测试针移动方向成直角,且该测量片有一岔断边缘 ,其与该光学测量件之延伸方向成一角度。 21.一种用于测试非构件型电路板之指状测试器,其 至少包含:一线型马达,其设有两静磁通量元件(31 、32;47、48;52、53)彼此相对排列;以及一电枢板(43), 其以可移动方式装设于该等静磁通量元件之间,并 由非磁性材料制成,且在等距间隔上有条状电枢元 件(45),该等电枢元件由磁性材料制成,其中一测试 探针(1)系被装设在该电枢板(43)上,并且提供作为 一指状测试器用于测试电路板,该测试探针不具独 立驱动器且含有一测试针,而该测试针含有一探针 尖端可被带至接触一电路板测试点并且其可藉由 至少两对弹性定位臂而枢转接合于一座架,其中至 少一定位臂系由导电性材料制成且电性连接至该 测试针。 22.如申请专利范围第21项所述之指状测试器,其特 征在于该测试探针系根据申请专利范围第1-20项任 一项所述之测试探针来实施。 23.如申请专利范围第21项所述之指状测试器,其特 征在于该等磁通量元件(31、32;47)至少其中之一者 具有一或多个永久磁铁,且在面向该电枢板(43)之 端部上有数个极壁(38),而驱动线圈(39)系被装设于 该等极壁上。 24.如申请专利范围第21项所述之指状测试器,其特 征在于该等磁通量元件(52)具有至少一用以产生静 磁场的一线圈(54)且在面向该电枢板(43)之端部上 有数个极壁(38),而驱动线圈(39)系被装设于该等极 壁上。 25.如申请专利范围第21、23或24项所述之指状测试 器,其特征在于气喷嘴设于两磁通量元件(31、32;47 、48;52、53)上,各气喷嘴导接至该电枢板而在该电 枢板(43)与该磁通量元件(31、32;47、48;52、53)之间 形成一气垫。 图式简单说明: 第1图为本发明之测试探针第一实施例之透视图; 第2图为第1图之测试探针,其中显示出测试针之原 始位置和偏移位置; 第3图为本发明之测试探针第二实施例之透视图; 第4图为第3图之测试探针,其中各元件呈现为透明; 第5图为本发明之测试探针第三实施例之透视图; 第6图为第5图之测试探针的透视图,其中不具外罩; 第7图为本发明之测试探针的侧视图,其中标示出 尺寸; 第8图为利用本发明之两测试探针进行四导线测量 之简化电路图; 第9图为线型马达第一实施例之概要图; 第10图为线型马达第二实施例之概要图; 第11图为线型马达第三实施例之概要图; 第12图为测试探针之概要图; 第13图为本发明之指状测试器概要图。 |
