发明名称 电子组件封装体及联结总成
摘要 一种电子组件,系安装在一印刷电路板之表面上,且一导热构件系收纳在该电子组件之表面上。一联结材料系设置在该电子组件与该导热构件之间,且该联结材料系由含量范围超过3wt%之Ag及In之材料制成。本发明人已证明由于在该联结材料全重中之Ag含量增加,故空洞在该联结材料与该电子组件之间的边界以及在该联结材料与该导热构件之间的边界处会减少。该联结材料可具有较一知焊料更高之导热性,且该联结材料使该导热构件可有效地接受来自该电子组件之热。
申请公布号 TWI276210 申请公布日期 2007.03.11
申请号 TW094131820 申请日期 2005.09.15
申请人 富士通股份有限公司 发明人 中村直章;吉村英明;福园健治;佐藤稔尚
分类号 H01L23/34(2006.01);H01L23/31(2006.01) 主分类号 H01L23/34(2006.01)
代理机构 代理人 恽轶群 台北市松山区南京东路3段248号7楼;陈文郎 台北市松山区南京东路3段248号7楼
主权项 1.一种电子组件封装体,包含: 一印刷电路板; 一电子组件,系安装在该印刷电路板上表面上: 一导热构件,系被收纳在该印刷电路板上之电子组 件之上表面上;及 一联结材料,系设置在该电子组件与该导热构件之 间,且该联结材料系由含量范围超过3wt%之Ag及In材 料制成。 2.如申请专利范围第1项之电子组件封装体,其中该 联结材料之熔点低于一连接该电子组件与该印刷 电路板之端子的熔点。 3.如申请专利范围第1项之电子组件封装体,其中该 联结材料之熔点低于该电子组件之耐热温度。 4.一种联结总成,包含: 一第一构件,具有一至少部份地暴露在该第一构件 之表面上第一金属; 一第二构件,具有一至少部份地暴露在该第二构件 之表面上第二金属,且该第二构件系在该第二金属 处收纳在该第一金属上;及 一联结材料,设置在该等第一与第二金属之间,且 该联结材料系由含量范围超过3wt%之Ag及In之材料 制成。 图式简单说明: 第1图是示意地显示一主机板之结构的立体图; 第2图是沿第1图之线2-2所截取之截面图,且示意地 显示一电子组件封装体之结构; 第3图是一表,显示与Ag含量有关之液相与固相温度 ; 第4图是一射线照片,显示在一比较例中之一联结 材料与一散热器之间的接触面; 第5图是一射线照片,显示在一第一特定例中之一 联结材料与一散热器之间的接触面; 第6图是一射线照片,显示在一第二特定例中之一 联结材料与一散热器之间的接触面; 第7图是一射线照片,显示在一第三特定例中之一 联结材料与一散热器之间的接触面; 第8图是一射线照片,显示在一第四特定例中之一 联结材料与一散热器之间的接触面;及 第9图是显示在该联结材料之厚度与该联结材料之 热阻抗之间之相关性的图。
地址 日本